R&S RTS雷达测试解决方案验证了恩智浦®半导体的下一代雷达传感器参考设计的性能

　　罗德与施瓦茨（以下简称R&S）的R&S RTS雷达测试解决方案验证了恩智浦^®半导体的下一代雷达传感器参考设计的性能。双方的合作推动汽车雷达的发展，雷达技术是实现高级驾驶辅助系统（ADAS）和自动驾驶功能的核心技术。

　　R&S与恩智浦通过一系列全面的测试，验证基于恩智浦的28纳米RFCMOS雷达单芯片SoC（SAF85xx）的新传感器参考设计。R&S RTS雷达测试系统包括R&S AREG800A汽车雷达回波发生器，R&S QAT100天线毫米波前端，该系统提供了独特的极短距离目标模拟能力，以及卓越的射频性能和信号处理能力。该测试是针对下一代汽车雷达应用的实际测试，推动汽车行业的完全自动驾驶愿景向前迈进。

　　恩智浦的下一代汽车雷达传感器参考设计基于行业首款28纳米RFCMOS雷达单芯片SoC系列。该雷达传感器参考设计可用于短、中和长距离雷达应用，以满足具有挑战性的NCAP（新车评价规程）安全要求，以及对L2+和L3车辆舒适功能的需求，包括定速巡航等等。

　　R&S RTS是适用于雷达传感器完整特性测试的系统，也是可以将目标距离下降到被测雷达空气间隔（airgap）的雷达回波发生器。R&S AREG800A汽车雷达回波发生器作为后端，R&S QAT100天线阵列或R&S AREG8-81S作为前端。该测试解决方案适用于汽车雷达生命全周期，包括开发实验室、硬件在环（HIL）、整车在环（VIL）、验证和生产应用等环节的要求。该解决方案还是完全可扩展的，可以模拟先进驾驶辅助系统的最复杂交通场景。

　　恩智浦半导体的高级辅助驾驶系统高级研发总监Adi Baumann：“多年来，我们一直与R&S密切合作，验证我们汽车雷达传感器参考设计。R&S领先的汽车雷达测试系统使我们能够高质量、高效地验证我们的汽车雷达产品，并验证我们雷达芯片的出色性能。R&S为恩智浦提供的经验、质量和支持水平正在产生积极影响。”

　　R&S信号源、电源及通用仪表业务副总裁Gerald Tietscher：“此次与恩智浦的合作加速了基于28纳米汽车雷达芯片的先进汽车雷达传感器的部署。这些技术服务于越来越具有挑战性的NCAP安全要求，并将有助于实现新的安全应用。我们在汽车雷达测试方面的经验使我们能够为这款基于行业首款28纳米RFCMOS单芯片雷达SoC的雷达传感器设计提供业界卓越的测试解决方案。”