在SPICE仿真的帮助下,我们研究了当BJT用作开关时发生的两种类型的功耗。
双极性结型晶体管(BJT)既可以用作小信号放大器,也可以用作开关。尽管现在你在电路板上看不到很多分立的BJT放大器——使用运算放大器要方便有效得多——但作为开关连接的BJT仍然很常见。
BJT开关通常用于阻断或向有刷直流电机、灯或螺线管等负载输送电流。它们有时也出现在更高频率的开关应用中,如开关模式调节器或D类放大器。图1显示了BJT开关的两种常见应用:高强度LED照明(左)和继电器控制(右)。两个开关都由微控制器上的通用输入/输出引脚驱动。
用于不同应用的两个BJT开关。
图1。BJT作为开关的两个例子。
在设计BJT开关电路时,我们的重点往往是正确控制晶体管和驱动负载所需的电流和电压。然而,考虑功耗也很重要,尤其是在电池供电或高环境温度应用中。如果我们不这样做,BJT的损耗可能会使部件温度升高到性能受损甚至热失效的程度。至少,功耗会降低交换机的效率。
在本文中,我们将关注两种主要类型的功率耗散:传导损耗和过渡损耗。
BJT传导损耗
作为开关,BJT始终以两种模式之一运行:
完全关闭。无负载电流可以流动,功耗基本为零。
完全开启。负载电流自由流动,功耗低但非零。
在导通状态下,负载电流从BJT的集电极流到其发射极。还需要基极到发射极电流以使集电极到发射极导通成为可能。这两条电流路径的总功耗称为传导损耗(PC)。我们可以使用以下公式进行计算:
VBE是基极-发射极结两端的电压
VCE是集电极-发射极结两端的电压
IB是基本电流
IC是集电极电流。
在导通过程中,VBE通常在700 mV左右。当BJT处于饱和(这是开关应用的首选模式)时,VCE约为200 mV。我们可以通过假设这些固定值,然后通过标准电路分析技术确定基极和集电极电流,来获得导通损耗的粗略估计。
用LTspice估算传导损耗
SPICE模拟提供了另一种更准确的估计传导损耗的方法。例如,考虑图2中的LTspice电路。该模拟双极性结型晶体管的Q1由3.3 V数字信号控制,并将电流切换到50Ω负载。
一种LTspice双极结晶体管电路。
图2:在LTspice中建模的双极性结型晶体管。
图3显示了运行模拟时产生的基极-发射极和集电极-发射极电压。
在开关周期的有源部分,模拟BJT开关的基极-发射极和集电极-发射极电压。
图3。在开关周期的有效部分期间,基极到发射极电压和集电极到发射极的电压。
LTspice图显示了208.5 mV的VCE,这与我们在前一节中假设的200 mV值非常接近。相比之下,VBE明显高于我们假设的934 mV,而不是预期的700 mV。
我们可以将这些新值插入电路分析计算中,并生成一个新的传导损耗估计值,但让LTspice为我们计算要容易得多。只需按住Alt键(如果您使用Mac,则按住Command键),然后点击晶体管;LTspice将生成如图4所示的图。
LTspice计算并绘制的晶体管功耗。
图4。LTspice计算并绘制的晶体管功耗。
结果表明,该BJT开关将在开关周期的激活阶段消耗一致的56mW的功率。
BJT转换损耗
上面功耗图中的这些不祥的峰值表明,传导损耗并不是我们需要讨论的唯一类型的功耗。图5显示了如果我们放大其中一个尖峰会发生什么。
BJT在从关断到接通的转换过程中的功耗。
图5。在从非导通截止状态到饱和导通状态的转变期间的BJT功率耗散。
出现这些尖峰是因为BJT不能瞬间从非导通状态变为完全导通状态。在过渡过程中,大量的集电极电流流动,集电极到发射极的电压尚未稳定到其低饱和水平。因此,功耗相对较高。
您可以在图6中看到这些电流-电压动态。橙色和红色曲线分别绘制了集电极电压和集电极电流;绿色曲线描绘了功耗。
集电极电压、集电极电流和从接通到断开转换期间的BJT总功耗。
图6。从关断状态转换到导通状态期间的集电极电压、集电极电流和BJT总功耗。
没有直接的方法可以准确地计算过渡损耗。涉及多个变量,BJT的电流和电压以相当复杂的方式变化。我建议使用模拟。
让我们来看一个例子。从上面的图开始,我可以按住Ctrl键并单击波形标签来执行积分(图7)。功率曲线下的面积表示能量损失,并且该能量可以加起来并除以时间,以产生由于BJT转变而产生的平均功率耗散。
将瞬时功率波形与LTspice积分。
图7。将瞬时功率波形与LTspice积分。
这表明,每次跃迁都会导致约1.35μJ的能量损失。假设我们以500赫兹,即每秒500个周期进行切换,这相当于每秒1000次转换。每秒的总能量损失为1.35μJ×1000=1.35 mJ。因此,由于转换而导致的平均功率耗散为1.35mW。
即使在不需要数字估计的情况下,也应注意以下两个参数:
开关频率。更高的开关频率意味着每秒有更多的转换,因此时间平均损耗更高。
上升/下降时间。上升或下降时间越长,每次转换的能量损失越大。
这两个因素都强烈影响过渡损耗。例如,图8表明,将控制信号的上升时间从10μs(用于上述模拟的值)增加到100μs会将能量损失从1.35μJ增加到13.7μJ。
该图显示了较慢的转变时间和相应较高的能量损失。
图8。开启和关闭状态之间较慢的转换会导致更多的能量损失。
发布日期: 2024-07-10
发布日期: 2024-03-11
发布日期: 2024-04-18
发布日期: 2024-06-07
发布日期: 2024-06-04
发布日期: 2023-11-10
发布日期: 2024-05-24
发布日期: 2024-06-07
发布日期: 2024-11-07
发布日期: 2024-11-07
发布日期: 2024-11-07
发布日期: 2024-11-07
发布日期: 2024-11-07
寻找更多销售、技术和解决方案的信息?
广州绿测电子科技有限公司(简称:绿测科技)成立于2015年11月,是一家专注于耕耘测试与测量行业的技术开发公司。绿测科技以“工程师的测试管家”的理念向广大客户提供专业的管家服务。绿测科技的研发部及工厂设立于广州番禺区,随着公司业务的发展,先后在广西南宁、深圳、广州南沙、香港等地设立了机构。绿测科技经过深耕测试与测量领域多年,组建了一支经验丰富的团队,可为广大客户提供品质过硬的产品及测试技术服务等支持。
技术工程师
销售经理
020-22042442
广东公司:冯经理
020-2204 2442-9-822
广西公司:何经理
020-2204 2442-9-880