是德科技推出高密度源表模块，旨在加速半导体表征

新模块具有灵活的软件选项、轻松的系统集成和同步以及专用的测量功能，可加快上市时间

可扩展、紧凑的解决方案：在 1U 中提供多达 20 个 SourceMeter 模块通道，为系统开发工程师提供更大的灵活性

一体化解决方案：将脉冲发生器和数字化仪功能与传统 SourceMeter 模块功能集成，显着降低成本

是德科技推出 PZ2100 系列多通道精密源表模块 (SMU) 解决方案。 这种新的 SMU 解决方案为数字开发工程师在 1U 机架空间中提供 20 个精密 SMU 通道，以帮助快速表征集成电路 (IC) 设计。

是德科技推出高密度源表模块，旨在加速半导体表征

尽管创新周期一再被压缩，标准也在不断发展，但设计和推广半导体元件仍然是一个非常耗时的技术过程。 在整个设计周期中，数字开发工程师必须连接并测试被测设备 (DUT) 上的多个端口，以排除故障并表征 IC 的性能。 如果没有高密度、自动表征解决方案，工程师在使用传统测试方法验证复杂的多端口设计时将面临延迟交付的风险。

Keysight PZ2100 系列 SMU 提供高密度 SMU 解决方案，可在紧凑的 1U 机架空间中扩展至 20 个 SMU 通道，帮助工程师应对这一风险。 灵活的软件选项、轻松的系统集成和同步以及专用的测量功能使工程师能够专注于表征而不是同步，从而有效缩短上市时间。

PZ2100 系列 SMU 具有以下优点：

一体化解决方案——简化了通道堆叠和同步操作，从而降低集成和控制代码的复杂程度，节省时间。简单明了的 GUI 可以加快原型机的测试、调试和故障诊断工作，PathWave IV 曲线测量软件无需编程即可实现快速测量和同步。

紧凑、灵活、可扩展——在宝贵的 1U 全宽外形中提供多达 20 个 SMU 通道，节省了机架空间，堆叠使用时无需冷却隔板。提供五种可配置、可升级的 SMU 模块选件。

一体式 SMU 模块——将脉冲发生器和数字化仪功能与传统的 SMU 功能（如精密的直流电压和电流供应与测量）融于一身，无需额外添置仪器即可满足新兴要求，从而降低了成本。

Furukawa Electric 新一代光子业务创新项目团队新一代元器件开发部总经理 Toshio Kimura 表示：“将 Keysight PZ2100 多通道精密型 SMU 纳入我们的测试系统之后，我们开发和大规模生产宽带、远程传输光学元器件时的测试吞吐量得以大幅提升。此外，它能在 1U 机架空间内容纳多达 20 个 SMU 通道，帮助我们减少了测试系统的占地面积。这样一个灵活、可扩展的模块化解决方案还能满足未来的测试需求，有助于降低整体测试成本。是德科技丰富的产品和计量专业知识为我们获得业务成功带来了助力，让我们能够在光学元器件行业继续保持领先。”

是德科技副总裁兼电子工业解决方案事业部卓越中心总经理 Carol Leh 表示：“借助可扩展至多达 20 个 SMU 通道的选件，PZ2100 系列能够提供相当于是德科技其他 SMU 五倍的通道密度，因此它成为了是德科技 1U 外形 SMU 中通道密度最高的一款。该模块与 PathWave IV Curve 软件构成了一套完整的解决方案，让您无需编程即可快速进行 IV 测量，从而可以集中精力完成表征，而不需要过多地关注同步和系统启动。”