R&S罗德与施瓦茨公司对汽车天线罩测试仪的改进为材料反射测量带来了新的精度

发布日期：2023-07-04

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Rohde&Schwarz增强了其R&S QAR质量汽车天线罩测试仪，这是一种为雷达集成测试量身定制的解决方案，用于分析和评估天线罩和保险杠的雷达兼容性。通过新的R&S QAR-K50单簇测量软件，原始设备制造商和一级供应商能够获得与矢量网络分析仪（VNA）和准光学（QO）设置非常接近的测量结果，但采用无损和二维方式。此外，用户受益于直观的R&S QAR运营理念。

R&S QAR是一种毫米波成像系统，用于高要求的天线罩和保险杠材料测试和验证。由于其卓越的性能、速度、质量和直观的操作，它是从开发和生产到验证天线罩材料以及集成76ghz至81ghz雷达的完美工具。

高空间分辨率的代价是在入射角方面有更大的传播。典型的雷达传感器具有一定的视场，例如，全范围（FRR）为+/-10°，短程雷达（SRR）为+/-60°。从材料表征技术出发，天线罩的反射参数主要定义为垂直入射角，因为这些参数可以用VNAs测量。R&S QAR-K50软件选项解决了这个问题。

将R&S QAR的测量结果与标准矢量网络分析仪（VNA）和准光学（QO）装置的测量结果进行比较，可以看出一些偏差，并用R&S QAR使用的较大孔径加以解释。

这就是R&S QAR-K50软件选项发挥作用的地方。它自动检测材料样品的最高反射，并在测试区域平均。确定反射区域的平均值，并在不到7秒内将其作为测量结果显示给用户。该值与VNA的S11和S22反射测量结果非常匹配。

在R&D期间使用VNA和QO设置进行的测量现在可以直接与R&S QAR测量进行比较。与VNA装置相比，该装置仍采用微波成像，但天线孔径较小，因此对定位误差不太敏感，更适合生产环境。R&S QAR-K50软件可自行检测正确的测量区域，并在样本位置稍微超出公差时向操作员提供光学反馈。R&S QAR现在将其用于均匀性分析的高分辨率图像（R&S QAR-K10软件）与一个健壮且易于使用的反射测量相结合。使用R&S QAR-K50软件选项获得的测量值与VNAs在QO设置中提供的结果具有直接可比性。

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