logo

STS系列

STS系列半导体静态参数测试系统

在半导体测试领域,绿测科技始终致力于为半导体器件的研发与生产提供专业测试解决方案。STS系列半导体静态参数测试系统正是针对MOSFET、IGBT等半导体器件特性打造的专用测试平台,为半导体器件提供从参数验证到可靠性评估的全流程测试支持。

核心能力:

STS系列半导体静态参数测试系统能够在宽范的工作条件下测试所有相关器件参数,包括击穿电压、导通电阻以及三端子FET电容、栅极电荷和功耗等IV参数。

STS系列半导体静态参数测试系统

专业测试系统赋能半导体器件创新

ico48.png

宽范围

ico14.png

微测量

ico34.png

自动切换

系统组成

电源模块

SMU模块

输出范围±210V/±10.5A(脉冲),最小分辨率100nV/10fA。(可定制)

信号发生模块

LCR模块

频率可达1kHz-1MHz,电容测量范围100fF-1μF。(可定制)

功放模块

测试治具

配备插座适配器,避免插入式器件连接错误。(可定制)

产品图示

STS front.webp

STS系列半导体静态参数测量系统技术参数(可定制)

型号STS6001
集电极/漏极通道最大输出电压DC±210V
电流DC±3.03A
脉冲±10.5A

最小分辨率

源极100nV*1/10fA*1
测量100nV*1/10fA*1
栅极通道最大输出电压DC±210V
电流DC±3.03A
脉冲±10.5A
最小分辨率源极100nV*1/10fA*1
测量100nV*1/10fA*1
电容测量最大偏置电压集电极/漏极/栅极±210V
频率范围 1kHz-1MHz
电容范围 100fF-1μF
    
工作范围IV功能集电极/漏极电压DC±210V
集电极/漏极电流DC±3.03A
脉冲±10.5A
栅极DC±210V/±3.03A
脉冲±210V/±10.5A
CV功能

集电极/漏极/栅极

直流偏置电压

±210V
频率1kHz-1MHz
电容100fF-100nF
栅极电荷功能Qg、Qgd、Qd1nC-100μC
VDD210V
ID10.5A
栅极驱动±30V

*1. 需选配SMU模块

系统特点

STS系列半导体静态参数测试系统围绕“功能模块+测试能力”双维度设计,既确保操作直观高效,又实现全面的测试覆盖。系统搭配IVCVQG测试治具和SemiWorks上位机测试软件,可实现多维度测试能力,满足半导体器件从研发到量产的全生命周期测试需求。

ico48.png

宽范围

具备宽泛的电压和电流(选配,3kV和1500A)

ico14.png

微测量

低于毫微安的电流测量

ico34.png

自动切换

IVCVQG测试治具集成全自动测试切换电路,可完成高压和大电流测试以及IV、CV测量切换

ico28.png

一站式解决方案

从参数验证到可靠性评估,实现全流程测试支持

应用场景

car.png

新能源汽车

  • 半导体器件的击穿电压、导通压降等参数测试,确保电驱系统高效可靠
  • 车载充电机(OBC)中半导体器件的来料筛选与失效分析,保障快充安全性
  • 二极管正向压降和漏电流验证,优化电池保护电路性能
光伏.png

光伏/储能

  • 测试SiC/GaN器件的高频特性(如结电容Ciss、Crss),优化逆变器转换效率
  • 功率模块的阈值电压漂移测试(VGE(th)),预防失效风险
  • 通过静态参数评估储能变流器中IGBT的长期可靠性

寻找更多销售、技术和解决方案的信息?

联系我们
联系电话: 020-2204 2442
邮箱:Sales@greentest.com.cn
微信客服二维码