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半导体与功率器件测试

  • DL-ISO 以最高的准确度、最佳的信号保真度和全面的连接性,使 GaN 和 SiC 器件表征具有最高的可信度。
  • 特殊的电流表设计用于在一次通过中精确测量从nA到A的电流消耗,无需进行多次测量扫描。短的恢复时间使仪器能够在移动通信设备从睡···
  • 适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的特性测量
  • QT-8100 数模混合IC测试系统适用于常规DC、AC参数测试和混合类及模拟类IC器件功能性测试。
  • DL07-ISO 以最高的准确度、最佳的信号保真度和全面的连接性,使 GaN 和 SiC 器件表征具有最高的可信度。
  • 适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的特性测量
  • 应用范围: 电源管理类;数码消费类;音频类;汽车、节能环保电子类;特殊专用或定制类IC以及晶圆测试。
  • 分析仪、曲线跟踪器和I-V系统的功能,成本仅为其成本的一小部分,五英寸高分辨率电容式触摸屏GUI,0.012%的基本测量精度,分辨率···
  • DL10-ISO 以最高的准确度、最佳的信号保真度和全面的连接性,使 GaN 和 SiC 器件表征具有最高的可信度。
  • 可与多种单元组合,适用于任何工序的特性评估,支持下一代的半导体测量。
  • 一种紧密耦合的仪器,它结合了分析仪、曲线跟踪器和I-V系统的功能,成本很低,宽覆盖范围高达105 V,7 A DC/7 A脉冲,最大100 W,···
  • soVu 探头技术可在基准电压以 100V/ns 或更快速度回摆 ±60kV 时提供高达 ±2500V 的精确差分测量。第二代探头采用 IsoVu 第 2 代···
  • 适用于功率设备的特性测量,支持超高电压/大电流
  • 覆盖范围广,最大可达1100 V/1 A DC 20 W,10fA测量分辨率,0.012%的基本测量精度,分辨率为6½位,五英寸高分辨率电容式触摸屏G···
  • 本装置是一款测量软磁材料交流磁力特性的装置。 最适用于材料、磁芯、以及装置厂商的研究开发部、质量保证部门、制造部门的新商品···
  • 一种紧密耦合的仪器,将分析仪、曲线跟踪器和I-V系统的功能结合在一起,成本仅为其成本的一小部分,宽覆盖范围,最大可达105 V/7···
  • FS-Pro半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备。
  • 全新 2601B-PULSE 系统数字源表 10µs 脉冲发生器 /SMU 采用的 PulseMeter TM 技术是集合了行业领先的高电流 / 高速脉冲发生器和···

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